一體化X射線源早就成為無(wú)損檢測(cè)材料的一種重要手段。能準(zhǔn)確顯示整個(gè)光纖到單個(gè)光纖的每個(gè)樣本。在聚合物領(lǐng)域，CT技術(shù)更是能夠確定材料成分。

高分辨率采集的質(zhì)量取決于幾個(gè)參數(shù)，包括了解聚合物對(duì)一體化X射線源的敏感性，清晰的相襯度以及特定分析所需的分辨率參數(shù)的定義。高分辨率CT采集需要一體化X射線源源聚焦的高穩(wěn)定性，但也需要樣品的高穩(wěn)定性。輕質(zhì)材料對(duì)一體化X射線源敏感，并且在掃描過(guò)程中會(huì)變形。復(fù)合材料的高分辨率檢查是無(wú)損顯示纖維取向與分布的強(qiáng)大工具。在獲得并重建樣本之后，可以通過(guò)定義的灰度值來(lái)區(qū)分材料成分。

在層析成像過(guò)程中，需要考慮兩件事：樣本量與視野。兩者之間同樣密切影響。樣本量在信號(hào)傳輸量中起著重要作用，從而會(huì)影響圖像質(zhì)量。樣本越大，保持信噪比的掃描時(shí)間就越長(zhǎng)。而視野取決于幾何分辨率（或體素大?。Ｒ虼?，當(dāng)樣本大于視野時(shí)（在高分辨率下），就只能在感興趣區(qū)域（ROI）而不是整個(gè)樣本上進(jìn)行采集。

一體化X射線源檢查可以收集很多信息，還有較強(qiáng)的檢測(cè)能力。能夠有效的檢測(cè)缺陷的形狀、位置和大小，還能結(jié)合密度分析技術(shù)最終確定缺陷的性質(zhì)，一直以來(lái)困擾的空間定位以及深度量化等問(wèn)題都被輕松的解決。

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