Vi3

X射線成像采集和分析軟件
Vi3是一個可定制的軟件平臺，支持直接應用及定制化應用的X射線成像和控制解決方案

VI3的特點

● 硬件控制

● 圖像增強和分析

● 存檔

● 圖像采集

● 形成報告

● 對接MES系統(tǒng)

電路板的原始圖像

高級缺陷增強(ADE)過濾器圖像

Vi3提供從運動控制、圖像采集、分析和存檔等整個工作流程中各個方面的完全可配置的控制。

為可擴展性而設計

為可擴展性而設計的Vi3可以輕松地與大多數(shù)工業(yè)級X射線源，探測器以及被檢測工件操縱裝置進行交互，從而擴展了您的硬件選擇。

Vi3的模塊化設計使您可以輕松添加選件和功能。Vi3具有三級密碼保護，因此高度安全。

Vi3通過開放的體系結構來提供最大的靈活性，該體系結構擁有眾多接口可對接外部，如PLC和數(shù)據(jù)庫服務器。它還與DICONDE兼容，可以在企業(yè)級別上部署多個數(shù)據(jù)收集和審查站。

如果您所在位置的流程發(fā)生了更改，可以調整Vi3來修改工作流程或處理邏輯。這大大減少了重寫代碼的必要性，甚至在某些情況下不需要重寫代碼。在圖像捕獲、操作員檢查和/或ADR分析等任務同步運行時，單個系統(tǒng)的工件吞吐量可以達到最大化。

VJT的Vi3軟件中顯示的所有帶有參考射線照相的鑄件：

所有鑄件的X射線參考照片顯示在VJT的Vi3軟件

更多零件，更優(yōu)質，更低風險

先進的圖像處理程序，如高級缺陷增強（ADE）、自動缺陷識別（ADR）和其他模塊化功能，可實現(xiàn)檢驗過程的自動化，最大限度地提高吞吐量和質量。此功能有助于提高員工的安全性，并降低產(chǎn)品用戶的風險。

ADR自動缺陷識別

ADR自動缺陷識別(ADR)包括圖像的后處理，用于自動檢測感興趣的預編程區(qū)域的缺陷。采用ADR專有成像軟件對模擬和數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)進行評價，無需操作者干預。感興趣的區(qū)域(ROI)是使用獲取的數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)預先編程的。然后，該軟件分析每個指定區(qū)域的缺陷，并提供統(tǒng)計過程控制數(shù)據(jù)，并可配置為在不合格材料或過程偏差超過編程水平時自動提醒質量過程人員。自動缺陷識別可以通過可重復的、客觀的檢查獲取圖像（上）、ADR增強圖像（下）和改進的過程來提高制造商的質量，但也可以通過減少勞動力來提高生產(chǎn)率。ADR將X線檢查過程與機器視覺相結合。X射線穿透產(chǎn)品，成像系統(tǒng)生成圖像進行評估，機器視覺自動分析圖像和決策過程。

Vi3圖像處理

從更好的數(shù)據(jù)到更好的分析再到更好的部件

數(shù)字X射線圖像可以產(chǎn)生65000多個灰度級。這對數(shù)據(jù)分析和解釋提出了獨特的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的膠片成像需要以不同的能量、膠片速度和曝光時間拍攝多張膠片，并在燈箱上進行解釋，以顯示被檢查零件的所有細節(jié)。相比之下，我們的數(shù)字圖像捕捉更多的數(shù)據(jù)，全光譜圖像，以改進操作和增強。VJT圖像處理與增強技術能更有效地解決圖像破譯的難題。VJT開發(fā)的一些獨特的模塊化過濾器包括：

先進的缺陷增強(ADE)過濾器：

使用專有算法逐像素分析單個X射線圖像，根據(jù)周圍區(qū)域突出顯示異常和缺陷。